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Documentation de réparation et schéma de principe de l'adaptateur ScanDoc

Schémas

  1. Schéma de principe et emplacement des composants du Compact
  2. Schéma de l'adaptateur de test

Test court

Le test court est exécuté par l'adaptateur lui-même dès la mise sous tension. Ce test vérifie les blocs internes de l'adaptateur. Si le test échoue, l'indicateur rouge de l'adaptateur clignote en affichant le code d'erreur.

Le numéro d'erreur se compose de deux chiffres décimaux. Chaque chiffre est codé par le nombre de clignotements courts de l'indicateur. Un clignotement long signale le début du code. Une pause de 3 secondes signale la fin de la première partie et le début de la seconde partie du code. Une pause de 4 secondes signale la fin du code.

Error

Par exemple, le numéro d'erreur 31 se présentera ainsi :
Long, pause de 2 secondes, court, court, court, pause de 2 secondes, court, pause de 3 secondes.

Description des erreurs

Code Description de l'erreur
1 Échec du test mémoire

On teste la mémoire RAM interne du microcontrôleur. Cette erreur peut apparaître non seulement à cause d'une défaillance de la RAM, mais aussi pour d'autres raisons.

Causes possibles d'apparition

  • Mauvaise alimentation du processeur D2.
  • Broches d'alimentation ou de masse du processeur D2 non soudées.
  • Processeur D2 défectueux.
  • C6 non soudé ou défectueux.
2 Impossible d'initialiser la ligne K

L'erreur apparaît lorsque le programme ne peut pas initialiser l'UART.

Causes possibles d'apparition

  • Mauvaise alimentation du processeur D2.
  • Broches d'alimentation ou de masse du processeur D2 non soudées.
  • Processeur D2 défectueux.
  • C6 non soudé ou défectueux.
3 Condition initiale incorrecte de la ligne PULLK

Après la mise sous tension, la ligne PULLK doit être à 0 logique.
Cette ligne est tirée à la masse par une résistance de l'assemblage de transistors VT16:1.

Causes possibles d'apparition

  • VT16 défectueux ou non soudé.
  • Ligne PULLK en court-circuit avec l'alimentation.
4 Condition initiale incorrecte de la ligne TXDK

Après la mise sous tension, la ligne TXDK doit être à 1 logique.
Cette ligne est tirée par la résistance R63 à +3,3 V.

Causes possibles d'apparition

  • R63 défectueuse ou non soudée.
  • Ligne TXDK en court-circuit avec la masse.
5 Condition initiale incorrecte de la ligne IPULLK

Après la mise sous tension, la ligne IPULLK doit être à 0 logique.
Cette ligne est tirée à la masse par la résistance R64.

Causes possibles d'apparition

  • R64 défectueuse ou non soudée.
  • Ligne IPULLK en court-circuit avec l'alimentation.
6 Condition initiale incorrecte de la ligne UREFF

Après la mise sous tension, la ligne UREFF doit être à 0 logique.
Cette ligne est tirée à la masse par la résistance R7.

Causes possibles d'apparition

  • R7 défectueuse ou non soudée.
  • Ligne UREFF en court-circuit avec l'alimentation.
7 Condition initiale incorrecte de la ligne PULLL

Après la mise sous tension, la ligne PULLL doit être à 0 logique.
Cette ligne est tirée à la masse par une résistance de l'assemblage de transistors VT17:1.

Causes possibles d'apparition

  • R64 défectueuse ou non soudée.
  • Ligne PULLL en court-circuit avec l'alimentation.
8 Condition initiale incorrecte de la ligne TXDL

Après la mise sous tension, la ligne TXDL doit être à 1 logique.
Cette ligne est tirée par la résistance R57 à +3,3 V.

Causes possibles d'apparition

  • R57 défectueuse ou non soudée.
  • Ligne TXDL en court-circuit avec la masse.
9 Condition initiale incorrecte de la ligne BOOTSW

Après la mise sous tension, la ligne BOOTSW doit être à 1 logique. Cette ligne est tirée par la résistance R42 à +3,3 V.

Causes possibles d'apparition

  • R42 défectueuse ou non soudée.
  • Ligne BOOTSW en court-circuit avec la masse.
10 Condition initiale incorrecte de la ligne ITXDK

Après la mise sous tension, la ligne ITXDK doit être à 1 logique. Cette tension est générée par la résistance R21.

Causes possibles d'apparition

  • R21 défectueuse ou non soudée.
  • Ligne ITXDK en court-circuit avec la masse.
11 Condition initiale incorrecte de la tension de la ligne K

Après la mise sous tension, la ligne K doit présenter une tension ne dépassant pas 1,4 V. Cette tension est générée par le driver D5. Si la tension est supérieure, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Court-circuit de la ligne K avec l'alimentation.
  • L'un des commutateurs VT2, VT16 est ouvert.
  • Circuit intégré D5 défectueux.
  • L'un des commutateurs VT2, VT16 est ouvert.
  • L'un des relais K1, K3, K5, K7 est en court-circuit. Dans ce cas, l'une des bornes 1, 3, 7, 13 du connecteur OBDII présente une tension.
12 Condition initiale incorrecte de la tension de la ligne L

Après la mise sous tension, la ligne L doit présenter une tension ne dépassant pas 1,4 V. Cette tension est générée par le driver D5. Si la tension est supérieure, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Court-circuit de la ligne L avec l'alimentation.
  • Commutateur VT17 ouvert.
  • Circuit intégré D5 claqué.
  • L'un des relais K2, K4, K6, K8, K9, K10 est en court-circuit. Dans ce cas, l'une des bornes 11, 8, 9, 12, 14, 15 du connecteur OBDII présente une tension.
13 Tension d'alimentation inférieure à 7 volts

L'erreur est générée si la tension d'entrée est inférieure à 7 V. Le microcontrôleur mesure la tension d'alimentation au moyen du diviseur R29, R34

Causes possibles d'apparition

  • Résistances R29, R34 défectueuses ou non soudées.
  • Fusible F1 défectueux.
  • Diode VD20 défectueuse.
  • Processeur D2 défectueux.
14 Tension du stabilisateur de polarisation hors de la plage de 5 volts

Le test génère sur le stabilisateur de polarisation DA1 une tension de 5 volts. Cela se fait en réglant les signaux UREF5V = 0 et UREFF = 0. La tension obtenue est contrôlée au moyen du diviseur R40, R41

Causes possibles d'apparition

  • Composants DA1, R1, VT5, VT4, R6, R5, R40, R41 défectueux ou non soudés.
15 Tension du stabilisateur de polarisation hors de la plage de 8 volts

Le test génère sur le stabilisateur de polarisation DA1 une tension de 8 volts. Cela se fait en réglant les signaux UREF5V = 1 et UREFF = 0. La tension obtenue est contrôlée au moyen du diviseur R40, R41

Causes possibles d'apparition

  • Composants DA1, R1, VT5, VT4, R6, R5, R40, R41 défectueux ou non soudés.
16 La polarisation de la ligne K ne s'active pas

Le test active la tension de polarisation de la ligne K vers la tension d'alimentation UREFF = 0 et active la polarisation PULLK = 1. Ensuite, la tension sur la ligne K est contrôlée au moyen du diviseur R33, R36

Causes possibles d'apparition

  • Ligne K en court-circuit avec la masse.
  • Activation non autorisée du transistor VT9.
  • Le transistor VT16 ne fonctionne pas.
17 Le comparateur de la ligne K ne fonctionne pas lors de l'activation de la polarisation

Le test active la tension de polarisation de la ligne K vers la tension d'alimentation UREFF = 0 et active la polarisation PULLK = 1. Ensuite, la tension à la sortie du comparateur DA2:1 est contrôlée

Causes possibles d'apparition

  • Résistances R11, R59 non soudées.
  • Le circuit intégré DA2:1 ne fonctionne pas.
  • Circuit intégré D1:1 défectueux.
18 L'inverseur D1:1 de la ligne IRXDK ne fonctionne pas

Le test active la tension de polarisation de la ligne K vers la tension d'alimentation UREFF = 0 et active la polarisation PULLK = 1. Ensuite, la sortie de l'inverseur D1:1 est contrôlée. Elle doit présenter un zéro.

Causes possibles d'apparition

  • Résistances R11, R59 non soudées.
  • Le circuit intégré DA2:1 ne fonctionne pas.
  • Circuit intégré D1:1 défectueux.
19 La polarisation de la ligne K ne se désactive pas

Le test désactive la polarisation de la ligne K et, après 40 ms, contrôle la tension sur la ligne K au moyen du diviseur R33, R36

Causes possibles d'apparition

  • Transistor VT16 défectueux.
  • Capacité élevée dans la ligne K.
  • Ligne K en court-circuit avec l'alimentation.
20 Le comparateur de la ligne K ne fonctionne pas lors de la désactivation de la polarisation

Le test désactive la polarisation de la ligne K et, après 40 ms, contrôle l'état à la sortie du comparateur DA2:1. La sortie doit être à 0 logique.

Causes possibles d'apparition

  • Comparateur DA2:1 défectueux.
21 Vitesse de commutation trop lente du comparateur de la ligne K

Le test met la ligne K en court-circuit avec la masse et, après 5 µs, contrôle l'état de la ligne RXDK. Si la ligne RXDK est encore à 1 logique, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Comparateur DA2:1 défectueux.
  • Capacité élevée de la ligne K.
22 L'inverseur D1:1 de la ligne IRXDK ne fonctionne pas

Le test désactive la polarisation de la ligne K et, après 40 ms, contrôle l'état à la sortie de l'inverseur D1:1. La sortie doit être à 1 logique.

Causes possibles d'apparition

  • Inverseur D1:1 défectueux.
23 La ligne K ne se met pas en court-circuit avec la masse

Le test met la ligne K en court-circuit avec la masse et, après 10 ms, contrôle la tension sur la ligne K. Si elle est supérieure à 0,3 V, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Les éléments VT9, VT10:2, R62, D3:2 ne fonctionnent pas.
  • Résistance élevée de la résistance R28.
24 Erreur lors de la transmission par la ligne K avec polarisation 12 V

Le test transmet l'octet 0x55 à 115200 bauds sur la ligne K et reçoit en retour l'octet transmis. Si l'octet transmis et l'octet reçu ne correspondent pas, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Relais K1, K3, K7, K13 en court-circuit.
  • Driver CAN D5 défectueux.
  • Capacité élevée de la ligne K.
  • Interférences sur la ligne K.
25 Valeur incorrecte de la résistance de polarisation à la masse

Le test déconnecte la polarisation de la ligne K vers l'alimentation PULLK = 0, active la polarisation de la ligne vers la masse IPULLK = 1 et contrôle la tension sur la ligne K au moyen du diviseur R33, R36. La ligne K doit être à 0.

Causes possibles d'apparition

  • Résistance R15 non soudée.
  • Transistor VT12 défectueux.
  • Fuite sur la ligne K vers l'alimentation.
26 Pas de polarisation de la ligne K vers la masse

Le test active la polarisation de la ligne K vers l'alimentation et vers la masse PULLK = 1, IPULLK = 1 et contrôle la tension sur la ligne K au moyen du diviseur R33, R36.

Causes possibles d'apparition

  • Défectueux
27 Réponse trop rapide du circuit RC de la ligne AINK

Le test met la ligne K en court-circuit avec la masse et, après 5 µs, contrôle la tension sur le diviseur R33, R36. Si la tension est tombée en dessous du seuil, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Condensateur C8 non soudé ou de capacité incorrecte.
28 Réponse trop rapide du circuit RC de la ligne AINL

Le test met la ligne L en court-circuit avec la masse et, après 5 µs, contrôle la tension sur le diviseur R37, R39. Si la tension est tombée en dessous du seuil, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Condensateur C9 non soudé ou de capacité incorrecte.
29 Erreur lors de la transmission par la ligne K avec polarisation 5 volts

Le test transmet l'octet 0xAA à 1200 bauds sur la ligne K et reçoit en retour l'octet transmis. Si l'octet transmis et l'octet reçu ne correspondent pas, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Relais K1, K3, K7, K13 en court-circuit.
  • Driver CAN D5 défectueux.
  • Capacité élevée de la ligne K.
  • Interférences sur la ligne K.
30 La ligne K ne se met pas en court-circuit avec UPWR

Le test établit un 0 logique sur la ligne ITXDK et contrôle la tension sur la ligne K. Cela permet de vérifier l'activation du commutateur supérieur VT2.

Causes possibles d'apparition

  • L'un des éléments VT2, VD1, R4, VT3, D1:2 est défectueux.
31 Erreur lors de la transmission par la ligne K inversée

Le test transmet l'octet 0x54 à 115200 bauds sur la ligne K inversée et reçoit en retour l'octet transmis. Si l'octet transmis et l'octet reçu ne correspondent pas, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Relais K1, K3, K7, K13 en court-circuit.
  • Driver CAN D5 défectueux.
  • Capacité élevée de la ligne K.
  • Interférences sur la ligne K.
32 La polarisation de la ligne L ne s'active pas

Le test active la tension de polarisation de la ligne L vers la tension d'alimentation UREFF = 0 et active la polarisation PULLL = 1. Ensuite, la tension sur la ligne L est contrôlée au moyen du diviseur R37, R39.

Causes possibles d'apparition

  • Ligne L en court-circuit avec la masse.
  • Activation non autorisée du transistor VT18.
  • Le transistor VT17 ne fonctionne pas.
33 Le comparateur de la ligne L ne fonctionne pas lors de l'activation de la polarisation

Le test active la tension de polarisation de la ligne L vers la tension d'alimentation UREFF = 0 et active la polarisation PULLL = 1. Ensuite, la tension à la sortie du comparateur DA2:2 est contrôlée.

Causes possibles d'apparition

  • Résistances R60, R27 non soudées.
  • Le circuit intégré DA2:2 ne fonctionne pas.
34 La polarisation de la ligne L ne se désactive pas

Le test désactive la polarisation de la ligne L et, après 40 ms, contrôle la tension sur la ligne L au moyen du diviseur R37, R39

Causes possibles d'apparition

  • Transistor VT17 défectueux.
  • Capacité élevée dans la ligne L.
  • Ligne L en court-circuit avec l'alimentation.
35 Le comparateur de la ligne L ne fonctionne pas lors de la désactivation de la polarisation

Le test désactive la polarisation de la ligne L et, après 40 ms, contrôle l'état à la sortie du comparateur DA2:2. La sortie doit être à 0 logique.

Causes possibles d'apparition

  • Comparateur DA2:2 défectueux.
36 La ligne L ne se met pas en court-circuit avec la masse

Le test met la ligne L en court-circuit avec la masse et, après 10 ms, contrôle la tension sur la ligne L. Si elle est supérieure à 0,3 V, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • L'un des éléments VT18, VT10:1, R61, D3:1 ne fonctionne pas.
  • Résistance élevée de la résistance R28.
37 Erreur lors de la transmission par la ligne L

Le test transmet l'octet 0x45 à 115200 bauds sur la ligne K et reçoit en retour l'octet transmis. Si l'octet transmis et l'octet reçu ne correspondent pas, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Relais K2, K4, K6, K8, K9, K10 en court-circuit
  • Driver CAN D5 défectueux.
  • Capacité élevée de la ligne L.
  • Interférences sur la ligne L.

Test complet

Pour le test complet, un adaptateur de test est nécessaire. Ce test est réalisé pour vérifier tous les blocs matériels de l'appareil, ainsi que son commutateur et les lignes de diagnostic.

Marche à suivre

  1. Insérez l'adaptateur de test dans le connecteur OBD-2 du scanner.
  2. Mettez l'adaptateur sous tension et établissez la connexion avec l'appareil.
  3. L'indicateur rouge s'allume sur l'appareil. Cela signifie que le test matériel a commencé.
  4. À la fin du test, l'indicateur s'éteint (s'il n'y a pas d'erreurs matérielles) ou affiche le code d'erreur au moyen de clignotements.
Attention ! Le test ne doit pas être effectué lorsque le scanner est connecté au véhicule.

Description des erreurs

Code Description de l'erreur
38 Borne 7 ou 11 en court-circuit avec l'alimentation ou la masse

Lors de la transmission des données de la ligne 7 vers la 11, l'émetteur contrôle ce qui est envoyé sur la ligne. En cas de court-circuit de la ligne, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Court-circuit avec la masse ou l'alimentation du relais K5 ou K2.
  • Suppresseurs VD14 ou VD9 en court-circuit.
39 Coupure dans le circuit de la borne 7 ou 11

Le test transmet un paquet sur la ligne 7 et reçoit ce paquet sur la ligne 11. Si le paquet transmis n'est pas reçu, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Relais K5 ou K2 défectueux ou non soudé.
  • Temps de réponse lent (supérieur à 5 ms) du relais K5 ou K2.
40 Interférences dans le circuit de la borne 7 ou 11

Le test transmet un paquet sur la ligne 7 et reçoit ce paquet sur la ligne 11. Si le paquet transmis et le paquet reçu ne correspondent pas, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Résistance élevée du circuit de sortie du relais K5 ou K2.
  • Temps de réponse lent (inférieur à 5 ms) du relais K5 ou K2.
  • Capacité élevée des suppresseurs VD14 ou VD9.
41 Bornes 7 et 14 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 7. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 14, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K9.
42 Bornes 7 et 12 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 7. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 8, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K4.
43 Bornes 7 et 8 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 7. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 12, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K8.
44 Bornes 7 et 9 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 7. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 9, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K6.
45 Borne 2 ou 12 en court-circuit avec l'alimentation ou la masse

Lors de la transmission des données de la ligne 2 vers la 12, l'émetteur contrôle ce qui est envoyé sur la ligne. En cas de court-circuit de la ligne, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Court-circuit avec la masse ou l'alimentation du relais K11 ou K8.
  • Suppresseurs VD3 ou VD17 en court-circuit.
46 Coupure dans le circuit de la borne 2 ou 12

Le test transmet un paquet sur la ligne 2 et reçoit ce paquet sur la ligne 12. Si le paquet transmis n'est pas reçu, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Relais K11 ou K12 défectueux ou non soudé.
  • Temps de réponse lent (supérieur à 5 ms) du relais K11 ou K12.
47 Interférences dans le circuit de la borne 2 ou 12

Le test transmet un paquet sur la ligne 2 et reçoit ce paquet sur la ligne 12. Si le paquet transmis et le paquet reçu ne correspondent pas, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Résistance élevée du circuit de sortie du relais K11 ou K8.
  • Temps de réponse lent (inférieur à 5 ms) du relais K11 ou K8.
  • Capacité élevée des suppresseurs VD3 ou VD17.
48 Bornes 2 et 14 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 2. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 14, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K9.
49 Bornes 2 et 11 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 2. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 11, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K2.
50 Bornes 2 et 8 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 2. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 8, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K4.
51 Bornes 2 et 9 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 2. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 9, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K6.
52 Borne 3 ou 8 en court-circuit avec l'alimentation ou la masse

Lors de la transmission des données de la ligne 3 vers la 8, l'émetteur contrôle ce qui est envoyé sur la ligne. En cas de court-circuit de la ligne, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Court-circuit avec la masse ou l'alimentation du relais K3 ou K4.
  • Suppresseurs VD11 ou VD12 en court-circuit.
53 Coupure dans le circuit de la borne 3 ou 8

Le test transmet un paquet sur la ligne 3 et reçoit ce paquet sur la ligne 8. Si le paquet transmis n'est pas reçu, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Relais K3 ou K4 défectueux ou non soudé.
  • Temps de réponse lent (supérieur à 5 ms) du relais K3 ou K4.
54 Interférences dans le circuit de la borne 3 ou 8

Le test transmet un paquet sur la ligne 3 et reçoit ce paquet sur la ligne 8. Si le paquet transmis et le paquet reçu ne correspondent pas, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Résistance élevée du circuit de sortie du relais K3 ou K4.
  • Temps de réponse lent (inférieur à 5 ms) du relais K3 ou K4.
  • Capacité élevée des suppresseurs VD11 ou VD12.
55 Bornes 3 et 14 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 3. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 14, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K9.
56 Bornes 3 et 11 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 3. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 11, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K2.
57 Bornes 3 et 12 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 3. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 12, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K8.
58 Bornes 3 et 9 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 3. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 9, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K6.
59 Borne 13 ou 9 en court-circuit avec l'alimentation ou la masse

Lors de la transmission des données de la ligne 13 vers la 9, l'émetteur contrôle ce qui est envoyé sur la ligne. En cas de court-circuit de la ligne, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Court-circuit avec la masse ou l'alimentation du relais K7 ou K6.
  • Suppresseurs VD16 ou VD15 en court-circuit.
60 Coupure dans le circuit de la borne 13 ou 9

Le test transmet un paquet sur la ligne 13 et reçoit ce paquet sur la ligne 9. Si le paquet transmis n'est pas reçu, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Relais K7 ou K6 défectueux ou non soudé.
  • Temps de réponse lent (supérieur à 5 ms) du relais K7 ou K6.
61 Interférences dans le circuit de la borne 13 ou 9

Le test transmet un paquet sur la ligne 13 et reçoit ce paquet sur la ligne 9. Si le paquet transmis et le paquet reçu ne correspondent pas, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Résistance élevée du circuit de sortie du relais K7 ou K4.
  • Temps de réponse lent (inférieur à 5 ms) du relais K7 ou K6.
  • Capacité élevée des suppresseurs VD16 ou VD15.
62 Bornes 13 et 14 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 13. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 14, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K9
63 Bornes 13 et 11 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 13. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 14, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K2.
64 Bornes 13 et 12 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 13. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 12, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K8.
65 Bornes 13 et 8 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 13. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 8, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K4.
66 Bornes 13 et 9 en court-circuit

Le test transmet un paquet sur la ligne 13. Si le paquet transmis est reçu sur la ligne 9, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Claquage ou activation non autorisée du relais K6.
67 Borne 1 ou 9 en court-circuit avec l'alimentation ou la masse

Lors de la transmission des données de la ligne 1 vers la 9, l'émetteur contrôle ce qui est envoyé sur la ligne. En cas de court-circuit de la ligne, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Court-circuit avec la masse ou l'alimentation du relais K1 ou K6.
  • Suppresseurs VD10 ou VD15 en court-circuit.
68 Coupure dans le circuit de la borne 1 ou 9

Le test transmet un paquet sur la ligne 1 et reçoit ce paquet sur la ligne 9. Si le paquet transmis n'est pas reçu, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Relais K1 ou K6 défectueux ou non soudé.
  • Temps de réponse lent (supérieur à 5 ms) du relais K1 ou K6.
69 Interférences dans le circuit de la borne 1 ou 9

Le test transmet un paquet sur la ligne 1 et reçoit ce paquet sur la ligne 9. Si le paquet transmis et le paquet reçu ne correspondent pas, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

  • Résistance élevée du circuit de sortie du relais K1 ou K4.
  • Temps de réponse lent (inférieur à 5 ms) du relais K1 ou K6.
  • Capacité élevée des suppresseurs VD ou VD.
70 Ligne CAN 2 sans réception

Le test transmet un paquet CAN sur la ligne CAN1 et reçoit ce paquet sur la ligne CAN2. Si le paquet transmis n'a pas été reçu, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

71 Ligne CAN 2, paquet de données incorrect reçu

Le test transmet un paquet CAN sur la ligne CAN1 et reçoit ce paquet sur la ligne CAN2. Si le paquet transmis et le paquet reçu ne correspondent pas, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

72 Ligne CAN 1 sans réception

Le test transmet un paquet CAN sur la ligne CAN2 et reçoit ce paquet sur la ligne CAN1. Si le paquet transmis n'a pas été reçu, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition

73 Ligne CAN 1, paquet de données incorrect reçu

Le test transmet un paquet CAN sur la ligne CAN2 et reçoit ce paquet sur la ligne CAN1. Si le paquet transmis et le paquet reçu ne correspondent pas, une erreur est générée.

Causes possibles d'apparition